机译:电子辐照p型4H和6H SiC缺陷的电子顺磁共振研究
机译:高电阻率4H SiC中固有缺陷与氮/硼杂质之间的相互作用:电子顺磁共振研究
机译:n型6H和4H-SiC中质子注入引起的缺陷:电子顺磁共振研究
机译:通过4H和6H多型,通过电子顺磁共振光谱(EPR)研究了SiC / SiO_2中的界面和氧化物缺陷。在干氧中1000°C炉氧化产生的两个顺磁缺陷
机译:利用电子顺磁共振和光电子顺磁共振研究半绝缘4H-SiC中的缺陷能级
机译:自旋标记研究红细胞膜的脂质和蛋白质成分。电子顺磁共振和饱和转移电子顺磁共振方法的比较。
机译:AlGaN和SiC中点缺陷的电子顺磁共振研究